Sistema de medición

Mahr XC2

Estado: usado, Año de fabricación: 2015, Funcionalidad: totalmente funcional, número de máquina/vehículo: 3286, Características técnicas: Capacidades de medición Recorrido de desplazamiento (eje X): 0,2 mm a 120 mm Ksdpfjxx R I Hex Abdedw Rango de medición (eje Z): 50 mm Resolución (eje Z): Relativa a la punta del palpador: 0,38 µm (con brazo de palpado de 350 mm), 0,19 µm (con brazo de palpado de 175 mm) Relativa al sistema de medición: 0,04 µm Desviación de la guía: < 1 µm en 120 mm Fuerza de medición (eje Z): Ajustable de 1 mN a 120 mN Ángulo de rastreo: Hasta 88° en flancos de salida, 77° en flancos de entrada Rendimiento y velocidad Velocidad de medición (eje X): 0,2 a 4 mm/s Velocidad de contacto (eje Z): 0,1 a 1 mm/s Velocidad de posicionamiento: Eje X: 0,2 a 8 mm/s Eje Z: 0,2 a 10 mm/s Palpador y sonda Longitudes de brazo de palpador: 175 mm o 350 mm Radio de la punta del palpador: 25 µm Intercambio de palpador: Montaje magnético para recambio sin herramientas Calibración: Datos almacenados por palpador para configuración rápida Sistema y software Unidad de control: PC estándar MidRange con software XC2 basado en MarWin Interfaz de usuario: Pantalla táctil con iconos intuitivos y programación Quick & Easy Funciones de evaluación: Líneas de regresión, círculos, puntos, radios, ángulos, coordenadas Comparación nominal/real Importación de DXF (opcional) Control de tolerancia Ejecuciones automáticas de programas Componentes incluidos: Unidad de accionamiento CD 120 Soporte de medición ST 500 con placa de granito (700 × 550 mm) Panel de control manual MCP 23 Mesa XY CT 120 con ajuste giratorio Kit de calibración Monitor TFT de 17" Estado de la máquina: EN FUNCIONAMIENTO