Sistema de mediciónLeica
EM TXP
Sistema de medición
Leica
EM TXP
EXW Precio fijo IVA no incluído
EUR 5.990
Año de fabricación
2017
Estado
De 2.ª mano
Ubicación
Schwäbisch Gmünd 

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Datos de la máquina
- Descripción de la máquina:
- Sistema de medición
- Fabricante:
- Leica
- Modelo:
- EM TXP
- Año de fabricación:
- 2017
- Estado:
- como nuevo (usado)
- Funcionalidad:
- totalmente funcional
Precio y ubicación
EXW Precio fijo IVA no incluído
EUR 5.990
- Ubicación:
- Katharinenstraße 13-17, 73525 17, Deutschland

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Detalles técnicos
- Ancho total:
- 389 mm
- Longitud total:
- 479 mm
- Altura total:
- 565 mm
- Peso total:
- 36 kg
Detalles de la oferta
- ID del anuncio:
- A21477952
- Actualizado por última vez:
- el 11.03.2026
Descripción
La EM TXP es un dispositivo único diseñado para la preparación precisa de una amplia gama de materiales y combinaciones de materiales con defectos locales mínimos. Está especialmente indicado para el corte, fresado, lijado y pulido de muestras exigentes, pequeñas y difíciles de manipular, donde el proceso de trabajo se observa mediante un microscopio estereoscópico y se permite un examen final en un microscopio electrónico de barrido o en un microscopio óptico sin interrupción de los distintos pasos del trabajo.
Entre otras funciones, la EM TXP ofrece una excelente opción para la preparación previa de materiales en los que posteriormente se realizará un corte en pendiente mediante un sistema de pulido iónico.
Incluye los siguientes accesorios:
1 ud. Microscopio estereoscópico M80 completo
1 ud. Placa con retícula para M80, 12 mm
1 ud. Adaptador móvil de objetivo para M80
1 ud. Adaptador de ajuste de ángulo
1 ud. Hoja de sierra diamantada
1 ud. Hoja de sierra diamantada
1 ud. Fresa especial con filo de diamante Ø 6 mm
1 ud. Fresa especial con filo de diamante Ø 12 mm
1 ud. Fresa especial con cuchilla WC Ø 8 mm
1 ud. Fresa especial con cuchilla WC Ø 12 mm
5 uds. Ejes
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 15 µm, SiC, Ø 30 mm
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, SiC, Ø 30 mm
1 ud. Lámina de pulido 5 µm, SiC, Ø 30 mm
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, diamante (Tipo U)
Fsdpfxeytrwas Acvepd
1 ud. Lámina de pulido 2 µm, diamante (Tipo U)
1 ud. Lámina de pulido 0,5 µm, diamante (Tipo U)
1 ud. Lámina de pulido 0,1 µm, diamante (Tipo LA)
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 3 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 1 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 0,3 µm, óxido de aluminio
1 ud. Paño de neopreno para pulido final (juego de 8)
2 uds. Caja para soportes y láminas
1 ud. Soporte para muestras planas de 0-4 mm
1 ud. Soporte para muestras planas de 3-8 mm
1 ud. Soporte SEM STUB TXP
1 ud. Soporte universal para muestras
El anuncio se tradujo automáticamente y se pueden haber producido errores de traducción.
Entre otras funciones, la EM TXP ofrece una excelente opción para la preparación previa de materiales en los que posteriormente se realizará un corte en pendiente mediante un sistema de pulido iónico.
Incluye los siguientes accesorios:
1 ud. Microscopio estereoscópico M80 completo
1 ud. Placa con retícula para M80, 12 mm
1 ud. Adaptador móvil de objetivo para M80
1 ud. Adaptador de ajuste de ángulo
1 ud. Hoja de sierra diamantada
1 ud. Hoja de sierra diamantada
1 ud. Fresa especial con filo de diamante Ø 6 mm
1 ud. Fresa especial con filo de diamante Ø 12 mm
1 ud. Fresa especial con cuchilla WC Ø 8 mm
1 ud. Fresa especial con cuchilla WC Ø 12 mm
5 uds. Ejes
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 15 µm, SiC, Ø 30 mm
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, SiC, Ø 30 mm
1 ud. Lámina de pulido 5 µm, SiC, Ø 30 mm
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, diamante (Tipo U)
Fsdpfxeytrwas Acvepd
1 ud. Lámina de pulido 2 µm, diamante (Tipo U)
1 ud. Lámina de pulido 0,5 µm, diamante (Tipo U)
1 ud. Lámina de pulido 0,1 µm, diamante (Tipo LA)
3 uds. Soportes para láminas de pulido
1 ud. Lámina de pulido 9 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 3 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 1 µm, óxido de aluminio
1 ud. Lámina de pulido 0,3 µm, óxido de aluminio
1 ud. Paño de neopreno para pulido final (juego de 8)
2 uds. Caja para soportes y láminas
1 ud. Soporte para muestras planas de 0-4 mm
1 ud. Soporte para muestras planas de 3-8 mm
1 ud. Soporte SEM STUB TXP
1 ud. Soporte universal para muestras
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